近日，彩譜科技發表《基于光澤分析的分光測色儀SCI誤差修正模型》研究論文，該技術已成功應用于其分光測色儀產品，顯著提升了不同光澤表面顏色測量的準確性，為工業色彩檢測領域帶來技術突破。
在工業生產中，顏色測量的一致性至關重要，這依賴于標準化的照明與觀察條件。國際照明委員會（CIE）推薦的“漫射照明、8°觀察角、包含鏡面反射（d/8:i，即SCI）”條件，本應消除材料表面光澤對測量的干擾。理想情況下，積分球的勻光作用能讓測量結果不受光澤影響，但實際儀器因結構限制，相同光譜反射率卻不同光澤的樣品，測量結果常出現偏差。
問題根源在于積分球混光效果未達理想狀態。當光線照射高光澤表面時，鏡面反射光會混入探測信號，而粗糙表面的鏡面反射占比更低，導致同色不同光澤樣品的測量數據出現差異，影響檢測精度。
針對這一痛點，彩譜科技研發團隊創新設計了同步測量顏色與光澤數據的一體化結構。通過步進電機控制撥片切換，可同時獲取SCI（包含鏡面反射）和SCE（消除鏡面反射）條件下的測量數據，以兩者差值精準量化表面光澤。基于27組不同光澤梯度的色板實驗數據，團隊建立了光澤差值與測量誤差的線性修正模型，通過Matlab擬合得到誤差計算公式，實現了根據光澤數據實時修正測量結果。
實驗驗證顯示，該模型對高、中、低光澤區域的測量數據修正效果顯著。修正后，同色不同光澤樣品的光譜反射率曲線重合度大幅提升，誤差占比明顯降低，其中光澤差異較大樣品的測量偏差改善尤為突出。
目前，這項技術已應用于彩譜科技分光測色儀產品。該技術突破解決了傳統儀器在金屬、塑料、涂料等不同光澤表面測量中的精度瓶頸，為汽車制造、塑膠電子、印刷包裝等對色彩一致性要求嚴苛的行業提供了更可靠的檢測手段，推動工業色彩檢測向更高精度邁進。
